半導體晶圓 FPD 檢查顯微鏡MX12R
- MX12R半導體晶圓,FPD檢查顯微鏡,最大支援 300mm晶圓及17吋液晶面板的檢查.含 4,6,8,12吋多種轉盤.
- 多種觀察功能: MX12R 整合了明視野,暗視野,簡易偏光,DIC等. 廣泛應用於半導體,FPD,電路封裝,電路基板,精密磨具等檢測.
- 仰角可調觀察筒：0-35°觀察角度可調,適合不同身高的用戶. 減輕了長時間工作帶來的不適與疲勞，大幅度提高工作效率.
- 全新離合器驅動式載物台:採用離合器手柄，按下扳手可靈活移動平台,無需長時間捏緊手柄.按下離合器按鈕,取消快速移動.
- 安全,高速的電動式鼻輪：設有前進,後退兩檔切換模式.可快速精確定位到所需的觀察倍率,重複定位精度高
- 物鏡與孔徑光闌採用全新的電動控制系統: 其操作按鍵位於儀器正前方,讓您觸手可及。人性化的電動設計不僅避免了頻繁的手動操作步驟.
PRODUCT DESCRIPTION
產品介紹
- 光學觀察: 明視野,暗視野,簡易偏光,DIC微分干涉
- 光學系統: 無限遠色差校正光學系統
- 觀察筒: 無限遠鉸鏈三通觀察筒,0-35°傾角可調,正像,瞳距調整 :50-76mm，分光比 100:0 或 0:100
- 目鏡: 高眼點大視野平場目鏡 PL10X/25mm，視度可調，可附單刻度十字分劃版
- 物鏡: 無限遠明暗場半復消金相 DIC 物鏡 5X 10X 20X 50X 100X
- 鼻輪: 明暗視野六孔電動鼻輪，附 DIC 插槽
- 載物台: 右手位14×12 吋三層機械移動平台,低手位 X、Y 方向同軸調整 ；平檯面積 718mmX420mm，移動範圍 ：356mmX305mm
- 機架組 : 反射式機架，前置低手位粗微同軸調焦機構。 粗調行程35mm，微調精準度0.001mm。 具有防止下滑的調整鬆緊裝置和隨機上限位裝置
- 照攝影攝影附件：0.5X/0.65X/1X 攝影接筒,C 型接口.可調焦
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