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溫控探針平台 、晶圓溫控夾盤
顯微鏡冷熱平台、 一般冷熱平板
霍爾效應測量系統、液晶面板檢測、高電阻測試儀
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倒立式顯微鏡專用加熱冷卻平台TSA12Gi 溫度: -20°C 到 90°C
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直立式顯微鏡簡易開放式加熱冷卻平台TS102S 溫度:-25°C 到90°C
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倒立式顯微鏡加熱冷卻平台TS102Si 溫度:-10°C到90°C
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半導體溫控片的熱電/冷卻平台TS102/TS102XY 溫度: -40°C 到120°C
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光譜儀/ FTIR 熱電加熱和冷卻系統 TS160-CUV 溫度:-40°C 到 160°C
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側面送樣 經典款HCS302/HCS302XY 溫度:-60°C 到 400°C
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雙面加熱 溫度更均勻 HCS402_HCS402XY 溫度:-60°C 到 400°C,
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HCS321GiHCS321Gi 溫度: -190°C 到 250°C
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適用 Spectroscopy: FTIR, Raman, X-rayHCS302GXY 溫度: -190°C 到 400°C
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適用 Spectroscopy: FTIR, Raman, X-rayHCS421VXY 溫度: -190°C 到 400°C
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適用 Spectroscopy: FTIR, Raman, X-rayHCS621GXY 溫度: -190°C 到 600°C
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適用 Spectroscopy: FTIR, Raman, X-rayHCS601GXY-IRM 溫度: -190°C 到 600°C
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適用: Spectroscopy: FTIR, Raman, X-rayHCS601G-IRM 溫度: -190°C 到 600°C
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適用: IR microscopy & SpectroscopyHS1000GXY-IRM 溫度: 30°C 到 1000°C
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適用: ceramics, metallurgy, geologyHS1200G 溫度: 30°C - 1200°C
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適用: IR microscopy & SpectroscopyHS1300G-IRM 溫度: 30°C - 1300°C
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適用: ceramics, metallurgy, geologyHS1500G 溫度: 30°C 到 1500°C
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適用: Cryogenic, upright microscopyCLM77K 溫度: -190°C 到 120°C
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適用: Cryogenic, Inverted microscopyCLM77Ki 溫度: -190°C 到 120°C
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適用: Tensile strength measurementHCS350G-TNS 溫度: -190°C 到 350°C
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適用: geology: fluid inclusionsHCS621GXY-GEO 溫度: -190°C 到 600°C
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適用: 四點探針平台 TP102G-PM 溫度: -30°C 到 160°C
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適用: 四點探針平台 HCP421V-PM 溫度: -190°C 到 400°C
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適用: 四點探針平台 HCP621G-PM 溫度: -190°C 到 600°C
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適用: 四點探針,非磁性(霍爾效應測量所需)HCP621G-PMH 溫度: -190°C 到 600°C
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